采用專利技術原理,無損檢測多種材料的 Seebeck 系數(shù)和電阻率
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熱電參數(shù)測試系統(tǒng) Namicro 采用準動態(tài)法和四探針法分別測量樣品的Seebeck 系數(shù)和電阻率。主要是用于測試塊體熱電材料,包括康銅、鎳、鎢等金屬,Te、Bi2Te3、ZrNiSn、ZnAgSb、NiMoSb、SnTe、FeNbSb、 CuGaTe2、GeTe、CuS、Cu2ZnSnSe4等半導體及化合物,以及PANI、PEDOT等高分子聚合物。
采用動態(tài)法測量 Seebeck 系數(shù),避免了傳統(tǒng)靜態(tài)測量法在溫差測量方面的系統(tǒng)誤差,測量更準確;
熱電參數(shù)測試儀采用四線法測量電阻率,測量更加穩(wěn)定可靠;
熱電偶不直接和樣品接觸,避免出現(xiàn)微型熱電偶斷裂失效的問題;
友好的軟件界面,操作簡單,采用智能化數(shù)據(jù)存儲及處理算法;……
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