光干涉原理專利技術,無損檢測材料熱膨脹系數,適合透光材料
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熱膨脹系數分析儀TEA 采用創新的光干涉原理專利技術,可無損檢測塊體和薄膜樣品的熱膨脹系數,廣泛應用于輔助各種新材料,尤其是薄膜材料的研究與開發以及質量檢驗。
自主知識產權產品,擁有多項技術專利;
基于光干涉原理的創新技術;
采用 PID 調節與模糊控制相結合形式控制的紅外加熱方式,大溫區連續、高速溫度跟隨、既定程序升溫及保持控制;
非接觸式無損檢測,測試精度高;
具備外接抽真空設備、循環水冷設備及載氣或制冷能力;
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