光學(xué)系統(tǒng)專利技術(shù),無(wú)損檢測(cè)材料相變溫度測(cè)溫范圍室溫~1100C
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相變溫度分析儀 PCA 是根據(jù)材料相變前后光學(xué)性質(zhì)(反射光功率)有較大差異的特性,在程序控溫下,使用一束恒定功率的激光照射樣品表面,記錄反射光功率變化,形成反射光功率與溫度變化曲線,從而確定相變溫度。
各種材料相變溫度(融化、軟化、晶化等)的實(shí)時(shí)測(cè)定;
新型材料(相變材料、相變儲(chǔ)能材料)的穩(wěn)定性測(cè)試及性能優(yōu)化;
新型相變機(jī)理(晶化溫度的尺寸效應(yīng)、材料的結(jié)晶動(dòng)力學(xué)過(guò)程等)研究;……
采用具有專利技術(shù)的光學(xué)系統(tǒng)檢測(cè)原理,配有高性能的加熱及控制系統(tǒng)和人性化的送樣組件,儀器性能優(yōu)越;
不僅可以檢測(cè)多種塊體材料,還可以檢測(cè)各種薄膜樣品,為客戶對(duì)材料的研究提供更大的便利和支持;
無(wú)損檢測(cè),不破壞樣品,節(jié)約成本;……
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